摘要： 以往使用的远场方法在确定现代天线性能方面日益显得力不从心，这主要是受距离、天线、多路反射、保密性等因素的影响，而近场方法通常能经济有效地解决上述问题。基于近场理论论述了平面近场中复杂口径场上高性能天线主极化和交叉极化的确定方法，并讨论了测量中的几个关键问题。针对某型双极化鉴别度天线进行了实际测量，测量结果表明该方法具有很高的工程实用价值。（作者单位：西安电子科技大学 天线与微波技术国家重点实验室 陕西 西安 710071）
中图分类号:
李勇;张士选;张福顺. 高交叉极化鉴别度天线的近场测量[J]. J4, 2000, 27(2): 223-228.
Authors. title[J]. J4, 2000, 27(2): 223-228.
