摘要： 提出了一种无损测量微波电路基片复介电常数的简单方法 .该方法把被测材料及取样器等效为测量网络与误差网络的并联 ,得到了复介电常数无损测量的计算公式 .理论分析与实验结果表明 :与传统的“场”分析方法相比 ,该方法具有模型简单、计算量小、精度较高且容易实现的优点 .另外 ,对于材料置于封闭波导或同轴线中的有损测量情况 ,该方法同样适用。
中图分类号:
田步宁;杨德顺;唐家明;刘其中. 微波电路基片复介电常数无损测量的简单方法[J]. J4, 2002, 29(4): 543-547.
Authors. title[J]. J4, 2002, 29(4): 543-547.
