摘要： 分析了3种不同开关块的单一布线能力，并使用CAD工具模拟了开关块拓扑对整个现场可编程门阵列布线面积和关键路径延时的影响. 模拟结果表明，Wilton开关块有最好的面积有效性，通用开关块次之，不相交开关块的面积有效性最差. 然而，开关矩阵类型对电路延时特性的影响很小. 还得出一个重要结论：单一开关块的布线能力并不能完全说明开关块拓扑的好坏.
中图分类号:
高海霞;杨银堂;郑泉智. FPGA开关块拓扑的评估[J]. J4, 2003, 30(6): 752-756.
Authors. title[J]. J4, 2003, 30(6): 752-756.
