基于March C+改进算法的MBIST设计

›› 2011, Vol. 24 ›› Issue (10): 67-.

基于March C+改进算法的MBIST设计

申志飞,梅春雷,易茂祥,闫涛,阳玉才

(合肥工业大学电子科学与应用物理学院,安徽合肥 230009)

出版日期:2011-10-15 发布日期:2011-10-24
作者简介:申志飞(1984—),男,硕士研究生。研究方向:集成电路设计与可测性设计。梅春雷(1987—),男,硕士研究生。研究方向:集成电路测试与可测性设计。易茂祥(1964—),男,副教授,硕士生导师。研究方向:VLSI测试方法与可测性设计。闫涛(1986—),男,硕士研究生。研究方向:集成电路设计与验证。阳玉才(1982—),男,硕士研究生。研究方向:集成电路设计与测试。
基金资助:
安徽省教育厅自然科学重点基金资助项目(No.KJ2010A280)

An Improved Design of MBIST Based on March C+

SHEN Zhi-Fei, MEI Chun-Lei, YI Mao-Xiang, YAN Tao, YANG Yu-Cai

(School of Electronic Science and Applied Physics,Hefei University of Technology,Hefei 230009,China)

Online:2011-10-15 Published:2011-10-24

摘要/Abstract

摘要：

针对SRAM内建自测试(MBIST),介绍几种常用的算法,其中详细介绍March C+算法,在深入理解March C+算法的基础上对其提出改进,以此提高MBIST的故障覆盖率。并且利用自顶向下设计方法,Verilog HDl设计语言、设计工具等设计MBIST电路及仿真验证,证明了本设计的正确性和可行性。

关键词: MBIST, IC设计, March C+, Verilog HDL

Abstract:

Several common algorithms for BIST of SRAM are introduced,especially the algorithm based on March C+.An improvement is proposed to enhance the fault coverage of MBIST.The most popular design method,top-down design,and the most commonly used IC design language,Verilog HDL,are adopted to design the MBIST circuit.Force-release sentence supported by Verilog HDL is used to conduct simulation verification.

Key words: MBIST;IC design;March C+;Verilog HDL

中图分类号:

TN402

申志飞, 梅春雷, 易茂祥, 闫涛, 阳玉才. 基于March C+改进算法的MBIST设计[J]. , 2011, 24(10): 67-.

SHEN Zhi-Fei, MEI Chun-Lei, YI Mao-Xiang, YAN Tao, YANG Yu-Cai. An Improved Design of MBIST Based on March C+[J]. , 2011, 24(10): 67-.

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