高速电路设计中信号完整性的反射分析
雷佩, 穆平安, 徐德俊
Analysis of Reflection of Signal Integrity in High-speed Circuit Design
LEI Pei, MU Beng-An, XU De-Dun
. 2018, (3): 24 . 

ISSN 1007－7820
CN 61－1291/TN
主管单位：中华人民共和国教育部
主办单位：西安电子科技大学
地址： 西安市太白南路2号 西安电子科技大学《电子科技》编辑部
邮政编码：710071
电话：029-88202440
传真：029-88202440

陕ICP备10006596号     版权所有 © 2018 西安电子科技大学《电子科技》编辑部