E2PROM失效故障分析

›› 2013, Vol. 26 ›› Issue (9): 71-.

E²PROM失效故障分析

刘冰,孙爱中,谢涛

(中国航空计算技术研究所第6研究室,陕西西安 710068)

出版日期:2013-09-15 发布日期:2013-09-25
作者简介:刘冰(1969—),女,高工。研究方向:弹载计算机。E-mail:807950447@qq.com

Failure Analysis of E²PROM SM9968

LIU Bing,SUN Aizhong,XIE Tao

(Research Section 6,Institute of Chinese Aeronautical Computing Technique,Xi'an 710068,China)

Online:2013-09-15 Published:2013-09-25

摘要/Abstract

摘要：

在计算机的使用中,发现E2PROM芯片出现数据丢失问题,导致计算机无法正常工作。通过对E2PROM的失效分析,其结果表明,故障的原因是芯片失效所致。经试验验证分析,确定该E2PROM器件存在芯片某流片生产批次工艺参数RRPOLY较差,影响上电复位电路的工作状态,造成部分芯片在上电过程中出现数据丢失问题。另外在E²PROM筛选中添加了非易失性测试,发现并解决了E²PROM早期失效问题。验证试验表明该措施的有效性和可行性。

关键词: E²PROM, 失效分析, 超差

Abstract:

It was found in use that the E2PROM chip loses data,for which reason the computer cannot work normally.A thorough analysis shows that the reason of the chip's failure is that the technological parameters "RRPOLY" exceeds tolerance.A solution is proposed by introducing a hard-lost test in stress screening.Validation tests show that this measure is feasible and effective.

Key words: E²PROM;failure analysis;exceeding tolerance

中图分类号:

TP343

刘冰,孙爱中,谢涛. E²PROM失效故障分析[J]. , 2013, 26(9): 71-.

LIU Bing,SUN Aizhong,XIE Tao. Failure Analysis of E²PROM SM9968[J]. , 2013, 26(9): 71-.

E²PROM失效故障分析

Failure Analysis of E²PROM SM9968

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