›› 2014, Vol. 27 ›› Issue (5): 36-.

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抗振晶体振荡器相位噪声测试方法的对比研究

陈中平,徐淑壹,贾英茜,王占奎   

  1. (1.中国电子科技集团公司第13研究所 第16专业部,河北 石家庄 050051;2.石家庄学院 电气信息工程系,河北 石家庄 050035)
  • 出版日期:2014-05-15 发布日期:2014-05-14
  • 作者简介:陈中平(1965—),男,高级工程师。研究方向:频率控制器件。E-mail:chenzp@hsri.cn。徐淑壹(1981—),男,工程师。研究方向:频率控制器件。贾英茜(1976—),女,博士,讲师。研究方向:MEMS及通信器件小型化。王占奎(1972—),男,高级工程师。研究方向:频率控制器件。

Contrast Research of Phase Noise Testing Method for an Anti-vibration Crystal Oscillator

CHEN Zhongping,XU Shuyi,JIA Yingqian,WANG Zhankui   

  1. (1.No.16 Research Room,No.13 Research Institute,CETC,Shijiazhuang 050051,China;2.Electrical and Information Engineering Department,Shijiazhuang University,Shijiazhuang 050035,China)
  • Online:2014-05-15 Published:2014-05-14

摘要:

目前电子系统都要求对晶体振荡器进行振动状态下相位噪声测试。但对于抗振晶体振荡器,按照常规相位噪声测试方法进行测试时其结果有可能不正常。文中分析了抗振晶体振荡器振动状态下的相位噪声及测试方法,通过对比测试发现,不同的测试系统其测试结果也不相同。通过系统设置和实验验证,解决了测试结果不正常的问题,使测试结果达成一致。

关键词: 晶体振荡器, 相位噪声, 抗振, 振动

Abstract:

At present,the phase noise of the crystal oscillator under vibration is required in electronic systems.The testing result can be abnormal according to the regular phase noise testing method for am anti-vibration crystal oscillator.The phase noise and testing method of the anti-vibration crystal oscillator under vibration was analyzed in this paper.In contrast to testing we find out some problems,that there can be the different testing result in the different test system.The test result can be according in the different test system,through system setting and experimental verification.

Key words: crystal oscillator; phase noise; anti vibration;vibration

中图分类号: 

  • TN752