摘要: IP核的广泛应用提高了电路集成的效率。由于众多功能各异的IP核集成在电路中,完善的测试机制是确保其正常工作的前提。因此,如何对IP核进行测试成为复用IP核技术必须解决的问题。IEEE Std 1500提供了IP核的测试实现机制,文中基于IEEE 1500研究如何实现IP核的Wrapper设计,实验以Hamming码译码IP核ALTECC_DECODER为测试对象,验证了IEEE 1500 Wrapper可有效地对IP核进行测试。
中图分类号:
王建喜. ALTECC_DECODER IP核的IEEE 1500 Wrapper设计[J]. , 2015, 28(10): 134-.
WANG Jianxi. Design of an IEEE 1500 Wrapper for ALTECC_DECODER IP Core[J]. , 2015, 28(10): 134-.