摘要:
在航空航天任务过程中,测控覆盖率高就能提供实时、连续、可靠的信息支持。利用VC结合STK二次开发,建立了测控链路仿真模型。软件利用STK/X模块较好的显示效果与Access模块计算、显示测控链路的余量和测控链路覆盖范围。针对不同的地面站部署,可计算空间飞行器的测控覆盖率。实现VC与STK集成的二次开发可大幅节省了开发时间,该仿真方法对测控系统的设计具有参考价值。
中图分类号:
丁学勇,崔津华. 基于STK二次开发的链路测控仿真[J]. , 2015, 28(6): 21-.
DING Xueyong,CUI Jinhua. Simulation of TT&C Based on Secondary Development of STK[J]. , 2015, 28(6): 21-.