›› 2015, Vol. 28 ›› Issue (10): 134-.

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  1. (1.桂林电子科技大学 电子工程与自动化学院,广西 桂林 541004; 2.广西自动检测技术与仪器重点实验室,广西 桂林 541004)
  • 出版日期:2015-10-15 发布日期:2015-10-29
  • 作者简介:王建喜(1989—),男,硕士研究生。研究方向:集成电路测试。E-mail;mzfxwjx@163.com
  • 基金资助:

Design of an IEEE 1500 Wrapper for ALTECC_DECODER IP Core

WANG Jianxi   

  1. (1.College of Electrical Engineering and Automation,Guilin University of Electronic Science and Technology,Guilin 541004,China; 2.Guangxi Key Laboratory of Automatic Detection Technology and Equipment,Guilin 541004,China)
  • Online:2015-10-15 Published:2015-10-29

摘要: IP核的广泛应用提高了电路集成的效率。由于众多功能各异的IP核集成在电路中,完善的测试机制是确保其正常工作的前提。因此,如何对IP核进行测试成为复用IP核技术必须解决的问题。IEEE Std 1500提供了IP核的测试实现机制,文中基于IEEE 1500研究如何实现IP核的Wrapper设计,实验以Hamming码译码IP核ALTECC_DECODER为测试对象,验证了IEEE 1500 Wrapper可有效地对IP核进行测试。

关键词: IP核, IEEE 1500 Wrapper, Hamming码

Abstract: IP core improves the efficiency of the integrated circuits.But the different functions of IP core embedded in integrated circuits require sophisticated test for the reuse IP core technology.IEEE Std 1500 provides a implementation mechanism for IP core test.This paper discusses the Wrapper design based on IEEE 1500,then takes the Hamming code decoding IP core ALTECC_DECODER as the experimental subject to verify the IEEE 1500 Wrapper's efficiency.

Key words: IP core;IEEE 1500 Wrapper;Hamming code


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