›› 2014, Vol. 27 ›› Issue (8): 50-.

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翻新伪造电子元器件的鉴别

高金环   

  1. (中国电子科技集团公司第13研究所 检测中心,河北 石家庄 050051)
  • 出版日期:2014-08-15 发布日期:2014-07-21
  • 作者简介:高金环(1982—),女,硕士,工程师。研究方向:半导体器件质量与可靠性。E-mail:gjinhuan@126.com

Discrimination of Counterfeit Imported Electronic Parts

GAO Jinhuan   

  1. (Detection Center,13th Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation,Shijiazhuang 050051,China)
  • Online:2014-08-15 Published:2014-07-21

摘要:

翻新伪造产品是工程应用的重大隐患,文中主要针对翻新伪造器件的特点,从器件的外部形貌、表面标识、引脚固定、内部互联结构、芯片版图等方面阐述了翻新伪造电子器件的鉴别方法。其对于工程应用前的器件筛选试验具有一定的借鉴意义。

关键词: 翻新伪造, 鉴别, 表面标识, 内部互联, 芯片版图

Abstract:

Counterfeit production may bring big trouble if used in project.This article discusses the methods for discriminating counterfeit products by their characteristics such as the encapsulation appearance,exterior marks,fixed leads,internal structure,and layout of die.It provides useful references for screening test before applied in project.

Key words: counterfeit;discrimination;exterior mark;internal structure;layout of die

中图分类号: 

  • TN306