电子科技 ›› 2024, Vol. 37 ›› Issue (5): 62-70.doi: 10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2024.05.009
丁玉洁1, 周志峰1, 王勇2, 王立瑞3
收稿日期:
2022-12-13
出版日期:
2024-05-15
发布日期:
2024-05-21
作者简介:
丁玉洁(1996-),女,硕士研究生。研究方向:机器视觉。基金资助:
DING Yujie1, ZHOU Zhifeng1, WANG Yong2, WANG Lirui3
Received:
2022-12-13
Online:
2024-05-15
Published:
2024-05-21
Supported by:
摘要:
目前国内对玻璃、透镜等透明物体的质量控制仍使用传统方法,传统的肉眼评估方法效率低下。为实现透明物体表面缺陷的自动化检测,提出一种基于相位测量偏折术(Phase Measuring Deflectometry,PMD)的透射式检测方法。利用结合了新相移图案生成计算式的PMD算法生成结构光条纹图案,使用透射式系统将该条纹图案投射到被测物体表面。相机采集经被测物体折射后的变形条纹图片,生成绝对相位图,通过识别绝对相位图中的局部畸变提取缺陷。通过分析周期错位导致误检的原因,提出一种绝对相位周期错位修正的方法。新相移图案生成计算式能提前修正周期错位现象,二者结合使用能提高相位展开的精度。以焦距为300 mm的凹、凸透镜为例进行实验,结果表明该方法能准确地提取出因表面缺陷导致的绝对相位图中的局部畸变,精度为0.1 mm。
中图分类号:
丁玉洁, 周志峰, 王勇, 王立瑞. 基于相位测量偏折术的透明物体表面缺陷检测[J]. 电子科技, 2024, 37(5): 62-70.
DING Yujie, ZHOU Zhifeng, WANG Yong, WANG Lirui. Surface Defect Detection of Transparent Objects Based on Phase Measuring Deflectometry[J]. Electronic Science and Technology, 2024, 37(5): 62-70.
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